金融界 2025 年 4 月 9 日消息，國家知識產(chǎn)權局信息顯示，杭州芯紀源半導體設備有限公司申請一項名為“一種新型高速半導體陶瓷器件無損掃描檢測設備”的專利，公開號 CN 119780657 A，申請日期為 2024 年 12 月。
專利摘要顯示，本發(fā)明涉及半導體技術領域，且公開了一種新型高速半導體陶瓷器件無損掃描檢測設備，包括 Y 向運動機構、Z 向運動機構和 X 向運動機構，所述 X 向運動機構安裝在 Z 向運動機構的正面，所述 Y 向運動機構安裝在 Z 向運動機構的底部用于 Z 向運動機構的 Z 向運動；所述 X 向運動機構包括 X 向固定板，所述 X 向固定板正面的上下兩側均安裝有兩根 X 向直線導軌。該新型高速半導體陶瓷器件無損掃描檢測設備通過對檢測掃描的 X 向和 Y 向運動采用高速高精度的直線電機進行驅動，大大減少了檢測掃描的運動時間，提升運動速度，實現(xiàn)了對半導體陶瓷器件的高精度、高效率的無損掃描檢測，最終減少對產(chǎn)品的檢驗時間，實現(xiàn)對大量產(chǎn)品進行高效檢驗的需求。
本文源自金融界
免責聲明：該文章系我網(wǎng)轉載，旨在為讀者提供更多新聞資訊。所涉內(nèi)容不構成投資、消費建議，僅供讀者參考。如果有侵權請聯(lián)系刪除。
地址：上海市嘉定區(qū)永盛路1218號仁豐金元大廈1205室
電話：(021) 5915 8515或 13761118001
Q Q：1105686531
郵箱：1105686531@gg.com
微信公眾號
官方微信
版權所有 ：上海豐赫佳業(yè)檢測技術有限公司
技術支持：豐赫佳業(yè)
